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高壓加速老化試驗(yàn)箱

HAST高加速老化箱 PCT加速老化試驗(yàn)箱

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pct飽和加速試驗(yàn)箱

pct飽和加速試驗(yàn)箱，PCT加速老化試驗(yàn)箱內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì),復(fù)合國(guó)家安全容器標(biāo)準(zhǔn),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中受過(guò)熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架,也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸免費(fèi)量身定制專(zhuān)用產(chǎn)品架。

產(chǎn)品型號(hào)：PCT-35
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-12-03
訪問(wèn) 量：770

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聯(lián)系電話：0769-22851840

產(chǎn)品詳情

品牌	艾思荔	產(chǎn)地	國(guó)產(chǎn)
型號(hào)	PCT-35	內(nèi)部尺寸	350-450
外箱尺寸	900-1260-930	飽和蒸汽溫度范圍	100-135度
飽和蒸汽濕度	100%	壓力范圍	3KG
循環(huán)方式	水蒸氣自然對(duì)流循環(huán)	安全保護(hù)裝置	缺水，超壓保護(hù)
配件	不銹鋼隔板兩層	設(shè)備容積	43
電源	220V

　　pct飽和加速試驗(yàn)箱(又名PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī))

　　主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，

　　濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

-產(chǎn)品簡(jiǎn)介

　　1.試驗(yàn)箱采用優(yōu)化設(shè)計(jì),美觀大方，做工精細(xì)。

　　2.采用大容量水箱,試驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng),不中斷。

　　3.采用日本“SHIMAX”智能溫控器，具有精度高，控制穩(wěn)定特點(diǎn)(依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏，USB曲線數(shù)據(jù)下載功能，和通訊功能)。

　　-產(chǎn)品應(yīng)用

　　廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

　　-規(guī)范要求

　　pct飽和加速試驗(yàn)箱內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì),復(fù)合國(guó)家安全容器標(biāo)準(zhǔn),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中受過(guò)熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架,也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸免費(fèi)量身定制專(zhuān)用產(chǎn)品架。

　　-安全保護(hù)裝置

　　A、誤操作安全裝置：高壓加速老化試驗(yàn)箱鍋門(mén)若未關(guān)緊則機(jī)器無(wú)法啟動(dòng).

　　B、超壓安全保護(hù)：當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過(guò)最大工作值自動(dòng)排氣泄壓.

　　C、超溫保護(hù)：當(dāng)鍋內(nèi)溫度過(guò)高時(shí)機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動(dòng)切斷加熱電源.

　　D、防燙傷保護(hù)：特制材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷.

　　E、手動(dòng)安全保護(hù)排壓伐.

　　-半導(dǎo)體測(cè)試

　　PCT試驗(yàn)箱對(duì)半導(dǎo)體的PCT測(cè)試：PCT最主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試，如果半導(dǎo)體封裝的不好，

　　濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中，常見(jiàn)的故裝原因：爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問(wèn)題。

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